Particle Characterization in Technology [ 2 volumes ] I. Applications and Microanalysis II. Morphological Analysis. [ Second printing ]. - Beddow, John Keith (ed.).
KORTE INHOUD
Particle Characterization in Technology [ 2 volumes ] I. Applications and Microanalysis II. Morphological Analysis. [ Second printing ]. is een boek van Beddow, John Keith (ed.).. Deze editie wordt tweedehands aangeboden door 1 boekverkoper(s) uit Heerlen. Voor meer info, bekijk de beschrijving van de beschikbare exemplaren verder op deze pagina.
1985zie alle details...
Koop dit boek tweedehands
bij volgende verkopers
1 foto's
Stel vraag Boek
2 vols. Original hardcovers. xviii,246 pp. & xviii,266 pp.; ills.; 26x18 cm. " Uniscience Series on Fine Particle Science and Technology " Text in English. - (trace of removed label on spines, stamp on endpapers, small signs of use) Although (very) good, see picture 1820 [Auteur: Beddow, John Keith (ed.).] [Uitgever: CRC Press, Inc.] [Jaar: 1985] [Titel: Particle Characterization in Technology [ 2 volumes ] I. Applications and Microanalysis II. Morphological Analysis. [ Second printing ].]
