Spectral relative intensity measurements for trace element determinations in plant samples. - Smit, Johannes.

KORTE INHOUD

"Spectral relative intensity measurements for trace element determinations in plant samples." is een boek van Smit, Johannes.. Het is uitgegeven door Excelsiors foto-offset. Deze editie verscheen in 1952. Dit werk telt 138 pagina's.

Deze editie wordt tweedehands aangeboden door 1 boekverkopers uit Heerlen. Voor meer info, bekijk de beschrijving van de beschikbare exemplaren verder op deze pagina.
1952zie alle details...

Categorie

Details

1952Uitgever: Excelsiors foto-offset138 paginas